イベント・研修情報詳細
イオンビーム加工・表面分析装置講習会 |
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| 内容 | 福井大学産学官連携本部及びふくい産学官共同研究拠点では、企業や学内の研究者を対象に、年間数回の講習会を予定しております。 各講習会は基本的に、設置されている分析機器の利用法を実際に体験しながら身に着けていくと同時に、研究開発に利用することが可能であるかどうかを確認していただくことを目的としています。興味がおありの方はご参加ください。 現在予定されている講習会は以下の通りです。これ以外にも順次、保有・管理する機器についての講習会の開催を予定しております。 ホームページやメール配信などによりお知らせしていきますので、是非こうした機会をご活用ください。 ◆日時：平成23年8月9日（火） 午後1時から3時まで ◆場所：ふくい産学官共同研究拠点（福井大学産学官連携本部内） ◆装置の名称： SII XVision200TB ◆装置の概要 イオンビーム加工・表面分析装置は、きわめて細く収束したイオンビームによる試料の微細加工から電子線による観察・分析までの連続作業を同時に行うことがでます。 例えば、異物付着部位や不良品の特定位置を、画像確認しながらピンポイントで加工・分析することで、プロ セス評価等の広範囲な解析手法として活用できます。 特に、透過型電子顕微鏡（TEM）観察用の試料づくりに は大いに役立つものです。 ◆講習内容（予定） 「集束イオンビーム法の基礎と応用について」 ・TEM試料作成方法。 ・試料断面加工例などのアプリケーション例の紹介。 ◆お申込み・問い合わせ先 講習会へのお申し込みは、受講をご希望になる方の氏名と所属をふくい産学官共同研究拠点までメール又は電話でお知らせください。 なお、希望者が多数の場合には調整させていただく場合がありますので、ご了承ください。参加費は無料です。 |
| 開催期間 | 2011年08月09日 |
| 有料／無料 | 無料 |
| 種別 | 研修会 |
| テーマ | 技術・技能 |
| 問い合わせ先 |
福井大学産学官連携本部 長谷川、白崎 TEL：0776－27－9795 FAX：0776－27－9795 E-mail：kyoten  hisac.u-fukui.ac.jp |
| 情報提供機関 | 福井県産業情報ネットワーク |
| 更新日 | 2011年08月02日 |
※掲載情報について
・本サイトの掲載情報は、主催者および公的機関等が発信する情報を基に作成、 もしくは主催者等により任意で登録されたものです。
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