イベント・研修情報詳細
（ふくい産学官共同研究拠点）機器分析講座2015のご案内 |
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| 内容 | 福井大学産学官連携本部（ふくい産学官共同研究拠点）では、地域イノベ ーション戦略 設備共用化プログラムとして、ふくい産学官共同研究拠点に 整備されている分析評価装置などについて理解を深めていただき、実際に分析 するための技術の習得を目的とした機器分析講座を開講いたします。 機器分析に興味や関心のあるすべての方に、分析機器で何ができるのか？ より良い測定のために必要なことは？分析機器の基礎知識やコツ、高度な データ解析について解説いたします。 【日時・内 容】 （１）平成２７年１１月１８日（水） 午後６時～８時 「 汎用SEMでFE-SEMよ り鮮明な画像？SEMの選び方・使い方 」 使用機器：Hitachi, S-2600H （２）平成２７年１１月２５日（水） 午後６時～８時 「 AFMより広く、光学顕微鏡より細かく。電子顕微鏡で粗さ測定 」 使用機器：ELIONIX, ERA-8900FE （３）平成２７年１２月 ２日（水） 午後６時～８時 「 X線を使って薄膜の厚さや粗さを調べよう 」 使用機器：BRUKER AXS, D8 ADVANCE & LEPTOS （４）平成２７年１２月 ９日（水） 午後６時～８時 「 専用解析ソフトでXRDデータの高度な解析手法を学ぼう 」 使用機器：BRUKER AXS, D8 ADVANCE & TOPAS （５） 平成２７年１２月１６日（水） 午後６時～８時 「 マイクロマニュピレーターを使った微細物のサンプリングと分析 」 使用機 器：Micro Support, Sampling Station 【場所】 福井大学 文京キャンパス （１・２）総合研究棟Ⅷ 西棟（旧 工学系4号館 西棟） オープンR&Dファシリ ティ １Ｆ （３・４・５）産学官連携本部 ふくい産学官共同研究拠点 【申込締切】 各講座実施前日の午後4時まで受け付けをいたします。 なお受講人数の関係により調整させて頂く場合がありますので、予め ご了承ください。 【参加費】 無料 【申込方法】 講座への参加を希望される方は、以下申込内容をふくい産学官共同 研究拠点までメール又は電話・ＦＡＸでご連絡ください。 ---------------------＜申込内容＞---------------------------- （会社名・機関名） （所属） （氏名） （電話番号） （メール） （交通手段）以下より選択 車（個別）・車（乗り合わせ）・徒歩または公共交通機関 ------------------------------------------------------------- 【申込先】 ふくい産学官共同研究拠点 メール：kyoten@hisac.u-fukui.ac.jp 電話・FAX ：0776－27－9795 （前田） |
| 開催期間 | 2015年11月10日 〜 2015年12月16日 |
| 有料／無料 | 無料 |
| 種別 | 研修会 |
| テーマ | 技術・技能 |
| 問い合わせ先 |
福井大学 産学官連携本部 ふくい産学官共同研究拠点 前田 TEL：0776－27－9795 FAX：0776－27－9795 E-mail：kyoten  hisac.u-fukui.ac.jp |
| 情報提供機関 | 福井県産業情報ネットワーク |
| 更新日 | 2015年11月11日 |
※掲載情報について
・本サイトの掲載情報は、主催者および公的機関等が発信する情報を基に作成、 もしくは主催者等により任意で登録されたものです。
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